工作稳定性成为影响有机场效应晶体管（OFETs）商业化的关键问题。人们普遍认为它与介电介质和有机半导体界面上的缺陷和陷阱密切相关，但这种认识并不总是有效地解决运行不稳定性问题，这意味着影响运行稳定性的因素尚未得到充分了解。

2024年9月6日，天津大学Tie Kai等人在Science Advances在线发表题为“Crucial role of interfacial thermal dissipation in the operational stability of organic field-effect transistors”的研究论文，该研究揭示了自热效应是影响运行稳定性的另一个关键因素。这项工作加深了对运行稳定性的认识，为超高稳定器件的研制开辟了一条有效途径。

但是，在2025年1月29日，该文章被撤回，主要原因是数据异常。

2024年9月6日，Science Advances发表了该文章。发表后，读者提出了多个数字有问题的担忧。这些问题已提交给作者，并于2024年11月8日在论文上发表了一份编辑关注表达。对数据的分析得出了对多个数据完整性的担忧。

图1H似乎有异常的数据点。图4A和图S12显然是通过使用彩色掩模来覆盖原始图形的部分而改变的。在图2D中，设备实际尺寸的印记显然被彩色掩模覆盖，并在其位置添加了不正确的比例。

结果，这篇研究论文被撤回。所有作者都同意撤稿。

参考消息：

https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.adv4628